ຂ່າວອຸດສາຫະກໍາ

ໃນການຜະລິດເຄື່ອງໃຊ້ໄຟຟ້າ, ການທົດສອບກະດານວົງຈອນແມ່ນຂາດບໍ່ໄດ້ສໍາລັບການຮັບປະກັນຄຸນນະພາບຂອງຜະລິດຕະພັນ. ບໍ່ວ່າຈະເປັນກະດານເປົ່າຫຼື PCBs ປະກອບ, probes ສ້າງຕັ້ງການຕິດຕໍ່ໄຟຟ້າເພື່ອກວດພົບການສັ້ນ, ເປີດ, ແລະການປະຕິບັດອົງປະກອບ. ໃນຂະນະທີ່ຄວາມຫນາແຫນ້ນຂອງວົງຈອນຍັງສືບຕໍ່ເພີ່ມຂຶ້ນ, ເຕັກໂນໂລຢີຂອງການທົດລອງການທົດສອບແມ່ນກ້າວຫນ້າໄປສູ່ຄວາມແມ່ນຍໍາແລະຄວາມຍືດຫຍຸ່ນທີ່ສູງຂຶ້ນ.

ດ້ວຍການຂະຫຍາຍຕົວຂອງການສື່ສານ 5G, ຈໍສະແດງຜົນທີ່ມີອັດຕາການໂຫຼດຂໍ້ມູນສົດຊື່ນສູງ, ແລະຊິບຫຼາຍຟັງຊັນໃນສະມາດໂຟນ, ການລົບກວນແມ່ເຫຼັກໄຟຟ້າຢູ່ໃນກະດານຫຼັກໄດ້ກາຍເປັນທີ່ໂດດເດັ່ນ. ການປົກຫຸ້ມຂອງ EMI shielding ສໍາລັບ mainboards ຂອງໂທລະສັບສະຫຼາດ, ເປັນອົງປະກອບໂລຫະທີ່ມີຄວາມແມ່ນຍໍາ, ກໍາລັງຮັບໃຊ້ເປັນອຸປະສັກທາງດ້ານຮ່າງກາຍທີ່ສໍາຄັນທີ່ປົກປ້ອງການປະຕິບັດຄວາມຖີ່ວິທະຍຸແລະຄວາມຫມັ້ນຄົງຂອງລະບົບ.

ໃນຂະນະທີ່ອຸປະກອນເອເລັກໂຕຼນິກສືບຕໍ່ພັດທະນາໄປສູ່ການຂະຫຍາຍຂະໜາດນ້ອຍ ແລະການເຊື່ອມໂຍງທີ່ສູງຂຶ້ນ, ການແຊກແຊງທາງແມ່ເຫຼັກໄຟຟ້າໄດ້ປະກົດວ່າເປັນສິ່ງທ້າທາຍອັນສຳຄັນທີ່ສົ່ງຜົນກະທົບຕໍ່ປະສິດທິພາບ ແລະ ຄວາມໜ້າເຊື່ອຖືຂອງຜະລິດຕະພັນ. ໃນສະພາບການນີ້, ຄລິບພາກຮຽນ spring conductive EMI ໄດ້ຮັບການຮັບຮອງເອົາຢ່າງກວ້າງຂວາງເປັນອົງປະກອບປ້ອງກັນຫນ້າດິນທີ່ຫນາແຫນ້ນໃນທົ່ວອຸປະກອນເອເລັກໂຕຣນິກທີ່ມີຄວາມແມ່ນຍໍາ.